配置図
主な装置
- 透過電子顕微鏡システム（JEM1220）
- 走査型電子顕微鏡（HITACHI：S-4800）
- 透過電子顕微鏡システム（JEM1400）
- ＣＴ 三次元再構築像作製装置（JEM1400に付属）
- 凍結割断レプリカ作製装置（JEOL JFD-II）
- 高圧凍結装置（Leica EM Pact-II）
- 凍結置換装置（Leica EM AFS2, EM FSP）
- 凍結超薄切片作製装置（Leica UCTに（Leica EM FCS）付属）
- 真空蒸着装置(JEOL JEE4B)
- 真空蒸着装置(JEOL JEE4X)
- 走査電顕試料作製装置等
- 超薄切片作製室
- 紫外線重合器
- ガラスナイフ作製器
- 試料処理用ドラフトチェンバ
- 試料処理用ドラフトチェンバ
- オスミウムコーティング装置
- 電子染色ライン
- 秤量器
- 熱重合器
- 遠心機
- 試料作製室空調室
- Ｘ線元素分析装置(OXFORD X-MaxN150)
- 走査型電子顕微鏡（JSM-7100F）
- 卓上走査型電子顕微鏡（JCM-6000Plus）
- サンドイッチ凍結装置（マリンワークス MW-SFD-01）